芯片切割刀片測量,縮小誤差提高良品率
晶圓劃片(即切割)是半導(dǎo)體芯片制造工藝流程中的一道必不可少的工序,在晶圓制造中屬后一道工序。將做好芯片的整片晶圓按芯片大小分割成單一的芯片(die),稱之為晶圓劃片最早的晶圓是用劃片系統(tǒng)進(jìn)行劃片(切割)的,現(xiàn)在這種方法任然占據(jù)了世界芯片切割市場的較大份額,特別是在非集成電路晶圓劃片領(lǐng)域。金剛石鋸片(砂輪)劃片方法是目前常見的晶圓劃片方法。芯片作為高精尖科技產(chǎn)物,晶圓切割刀的科技含量自然而然也非常高,增加環(huán)路密度、減低切割道路寬度、減小晶圓厚度、增加產(chǎn)能,是集成電路生產(chǎn)商要求切割表現(xiàn)不斷提高的重要因素。如果晶圓切割刀片尺寸精度低,切割工序就容易出現(xiàn)切槽臺階、正面崩口大、切縫蛇形、槽型傾斜、刀刃斷裂等情況,所以晶圓切割刀片建議使用高精度影像測量儀進(jìn)行外形尺寸測量。
海科思激光影像測量儀采用的影像系統(tǒng)以及激光側(cè)頭,搭配業(yè)內(nèi)的測量軟件,不僅可以快速測量晶圓切割刀片的各項外觀尺寸,對于晶圓切割刀片的平面度翹曲度測量也同樣適用,一臺測量設(shè)備就可滿足晶圓切割刀片的測量需求。晶圓切割刀片測量儀采用的是非接觸式設(shè)計,從開始到完成測量期間都不會觸碰到晶圓切割刀片表面,也不會給晶圓切割刀片表面留下劃痕、凹陷、污漬等影響晶圓切割機性能的瑕疵。該款設(shè)備可實現(xiàn)三軸全自動測量,支持鼠標(biāo)及搖桿同時操作,方便快捷;配備業(yè)內(nèi)的GIEZHY測量軟件,具有幾何測量、導(dǎo)航定位測量、CNC程序設(shè)計、SPC報表輸出等各種核心功能,滿足了3D打印行業(yè)對于測量的通用性、穩(wěn)定性、高精度、操作簡單、功能齊全等要求。
海科思有各式二次元影像測量儀,可根據(jù)需求定制,歡迎致電咨詢:400-0528-668
同類文章排行
- 芯片切割刀片測量,縮小誤差提高良品率
- 軸瓦厚度測量,提升均一性減少故障
- 干濕兩種油墨一臺設(shè)備就能測量厚度?海科思油墨厚度測量利器
- 激光高精度測量IC芯片部件平面度,及時發(fā)現(xiàn)不良品
- 燃料電池雙極板流道測量平面度,多層堆疊更貼合
- 封裝基板厚度測量,實時顯示數(shù)據(jù)提升良品率
- 汽車電池殼體平面度測量,大型工件平面度解決方案
- 臺風(fēng)洪水多發(fā),測量設(shè)備應(yīng)該如何維護(hù)
- 晶圓外延工藝后測量平面度,高精度知曉厚度均勻性
- 電芯平整度測量,層疊纏繞工藝測量能手
最新資訊文章
- 芯片切割刀片測量,縮小誤差提高良品率
- 軸瓦厚度測量,提升均一性減少故障
- 干濕兩種油墨一臺設(shè)備就能測量厚度?海科思油墨厚度測量利器
- 激光高精度測量IC芯片部件平面度,及時發(fā)現(xiàn)不良品
- 燃料電池雙極板流道測量平面度,多層堆疊更貼合
- 封裝基板厚度測量,實時顯示數(shù)據(jù)提升良品率
- 汽車電池殼體平面度測量,大型工件平面度解決方案
- 臺風(fēng)洪水多發(fā),測量設(shè)備應(yīng)該如何維護(hù)
- 晶圓外延工藝后測量平面度,高精度知曉厚度均勻性
- 電芯平整度測量,層疊纏繞工藝測量能手
您的瀏覽歷史
