手機(jī)/電腦/硬盤外殼的平面度如何檢測?
在各種電子產(chǎn)品泛濫,競爭激烈的今天,產(chǎn)品外形與產(chǎn)品質(zhì)量是消費(fèi)者的重點(diǎn)考慮因素。超薄型電子產(chǎn)品越來越多,各種保護(hù)外殼(如手機(jī)外殼、手機(jī)保護(hù)套、筆記本電腦外殼、硬盤外殼等)應(yīng)運(yùn)而生。這些外殼在裝飾了電子產(chǎn)品的同時也起到了的美化及散熱作用。
手機(jī)/電腦/硬盤外殼的平面度的檢測,傳統(tǒng)的測量方式時采用千分尺手動檢測,這種方法不僅消耗了大量的人工,而且精確度很低,人工測量帶有主觀性誤差,同時由于采用接觸式測量容易劃傷產(chǎn)品。針對這一問題,??扑纪瞥龆噻R頭聯(lián)動手機(jī)外殼檢測儀。
手機(jī)外殼平面度檢測儀是由廣電檢測系統(tǒng)、X軸與Y軸二維移動系統(tǒng)、人機(jī)交換系統(tǒng)等幾部分構(gòu)成的光、機(jī)、點(diǎn)、控一體化的檢測系統(tǒng)。手機(jī)外殼平面度測量儀用用了陷阱的光路與激光聯(lián)動技術(shù),配置有高精度CCD影像和高精度的日本鐳射測頭系統(tǒng),采用激光非接觸測量,避免與工件接觸造成劃傷損壞。
此外,針對手機(jī)外殼外觀尺寸的檢測,??扑加惺謾C(jī)外殼測量儀。手機(jī)外殼測量儀采用我司首創(chuàng)的專利技術(shù)之一——多鏡頭聯(lián)動高精度高速測量系統(tǒng),其利用多個鏡頭同時拍照,并以光罩技術(shù)量測出被測量物的具體尺寸,能在1秒內(nèi)進(jìn)行多尺寸的高精度快速測量,并自動顯示產(chǎn)品是否合格,為各大產(chǎn)家節(jié)省大量用工成本,并大大提高了工作效率,此技術(shù)已廣泛應(yīng)用在多家國內(nèi)外大廠所定制的專用測量設(shè)備中。
了解設(shè)備詳情,請致電海科思:400-0528-668
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