導電粒子如何測量
導電粒子如何測量
隨著電子產(chǎn)品朝輕,薄,短,小化快速發(fā)展,各種攜帶式電子產(chǎn)品幾乎都已液晶顯示器作為顯示面板,特別是在攝錄放影機,筆記型電腦或個人數(shù)位處理器等產(chǎn)品上,液晶顯示器已是重要的組成元件。液晶顯示器除了液晶面板外,在其周邊連動驅(qū)動晶片作為顯示訊號之控制用途。而異方導電材料廣泛應用在這方面。
異方導電特性主要取決于導電粒子的充填率。雖然異方性導電膠其導電率會隨著導電粒子
充填率的增加而提高,但同時也會提升導電粒子互相接觸造成短路的機率。此外,導電粒子的粒徑分布和分布均勻性亦會對異方導電特性有所影響。通常,導電粒子具有良好的粒徑均一性和真圓度,以確保電極與導電粒子間的接觸面積一致,維持相同的導通電阻,并同時避免部分電極未接觸到導電粒子,導致開路的情形發(fā)生。常見的粒徑范圍在3~5μm之間,太大的導電粒子會降低每個電極接觸的粒子數(shù),同時也容易造成相鄰電極導電粒子接觸而短路的情形;太小的導電粒子容易行成粒子聚集的問題,造成粒子分布密度不平均。在導電粒子的種類方面太小的導電粒子容易行成粒子聚集的問題,造成粒子分布密度不平均。
對導電粒子進行測量和篩選可以從源頭做起,從而消除因?qū)щ娏W淤|(zhì)量所產(chǎn)生的生產(chǎn)質(zhì)量問題。??扑紝щ娏W訙y量有的方法,通過高倍高清晰度的鏡頭及特制的光源,可以清楚的觀察到導電粒子的分布情況及顆粒的大小。
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